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Sobre o programa
 Apresentação
Presente em todas as áreas do conhecimento, METROLOGIA – a ciência, a arte e a tecnologia das medições – desenvolve-se no contexto de um esforço sistêmico e continuado que visa atribuir confiabilidade e maior exatidão às medições, relacionando-as às Constantes Fundamentais da Física. Em consonância ao caráter essencialmente multidisciplinar que é inerente à metrologia, o Programa de Pós-Graduação em Metrologia da PUC-Rio (PósMQI) beneficia-se da conjunção de esforços, competências e infra-estruturas laboratoriais existentes em diversos departamentos do Centro Técnico-Científico da Universidade com o objetivo de desenvolver pesquisas cooperativas em metrologia e formar um profissional interdisciplinar, com características, especificidades e identidade própria, distinta das áreas-origem que contribuíram para a sua formação. Assim, o Programa beneficia-se do potencial multidisciplinar do Centro Técnico Científico da universidade que o hospeda para desenvolver e praticar a interdisciplinaridade.
A partir do processo de abertura e globalização econômica, metrologia e qualidade passaram a ser compreendidas como áreas do conhecimento com impacto direto no processo de desenvolvimento da competitividade. Intimamente correlacionadas, metrologia e qualidade constituem-se em poderosos instrumentos de transformação da infra-estrutura tecnológica de países e organizações e ferramentas indispensáveis à melhoria de produtos e serviços que concorrem em mercados competitivos. Com forte impacto econômico e social, a prática da metrologia induz a uma drástica redução nos índices de desperdício e retrabalho, gerando na sociedade uma cultura voltada para a qualidade, para a construção da cidadania, para a prática e defesa dos direitos do consumidor e melhoria da qualidade de vida.
Criado em 1996, a pós-graduação em metrologia da PUC-Rio constitui-se em resposta da universidade ao apelo de um esforço interministerial do governo federal que estimulou e induziu, no contexto do Programa RH-Metrologia, a formação de cultura metrológica e o desenvolvimento de recursos humanos qualificados no País como estratégia de suprir as deficiências dessa área interdisciplinar impactante na competitividade.
O Mestrado de Metrologia da PUC-Rio, sediado no Instituto Tecnológico que lhe presta apoio logístico e laboratorial, nasceu de um esforço interdepartamental que reúne esforços dos departamentos de Engenharia Mecânica, Industrial, Elétrica, Ciências dos Materiais, Física e Química, disponibilizando uma notável infra-estrutura física e intelectual, uma vez que agrega importantes espaços laboratoriais em reconhecido ambiente de pesquisa, contando com a participação de um seleto quadro de experientes pesquisadores em áreas complementares do conhecimento.
O programa propõe-se a formar profissionais de elevado nível técnico-científico, com competência para enfrentar os desafios que decorrem dos avanços e sofisticações da metrologia e da nova lógica imposta pelas regras da metrologia e da qualidade e pelo novo momento econômico que preconiza a livre concorrência e a inserção competitiva em mercados abertos, cada vez mais requerendo a inovação tecnológica. Adicionalmente à formação de mestres que orientam a sua dissertação para temas de interesse industrial, o programa tem procurado direcionar o seu esforço de pesquisa para o desenvolvimento de novas técnicas de medição, métodos analíticos, desenvolvimento de padrões, procurando atender demandas específicas do INMETRO, de laboratórios credenciados das redes brasileiras calibração de ensaios e de outras instituições de P& D que trabalham todas as interfaces da ciência e da tecnologia das medições.
O Programa incorpora uma visão multidisciplinar e interdepartamental, dessa forma beneficiando-se da riqueza das parcerias e coalizões no encaminhamento de soluções para problemas da sociedade. A metodologia utilizada para a definição da evolução das disciplinas e de suas ementas passa por uma etapa de contínua consulta ao setor produtivo e outros órgãos demandantes de metrologia, processo extremamente facilitado pela excelente interação que a universidade mantém com o mundo externo. Em particular, o Programa de Pós-Graduação da PUC-Rio procura manter um vínculo permanente com outros programas acadêmicos e profissionalizantes em metrologia e suas áreas correlatas, existentes no País e no exterior, além de estimular o intercâmbio com os institutos nacionais de metrologia de diversos países, criando oportunidades de interação em âmbito internacional.
Objetivos
Formar e capacitar recursos humanos em Metrologia para suprir necessidades do Sistema Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial (Sinmetro).
O programa atende também a necessidades específicas de empresas e organizações que desejam direcionar o treinamento e a formação de profissionais em áreas específicas voltadas ao desenvolvimento da competitividade.
Histórico
A partir do processo de abertura e globalização econômica, metrologia e qualidade passaram a ser compreendidas como áreas do conhecimento com impacto direto no processo de desenvolvimento da competitividade. Intimamente correlacionadas, metrologia e qualidade constituem-se em poderosos instrumentos de transformação da infra-estrutura tecnológica de países e organizações e ferramentas indispensáveis à melhoria de produtos e serviços que concorrem em mercados competitivos. Com forte impacto econômico e social, o adequado uso da metrologia induz uma drástica redução nos índices de desperdício e retrabalho gerando, na sociedade, uma cultura voltada para a qualidade e para a inovação, para a construção da cidadania, para a prática e defesa dos direitos do consumidor e melhoria da qualidade de vida.
Para prover recursos humanos com formação multidisciplinar adequada à superação dos desafios impostos pela competitividade, foi criado o Programa de Pós-Graduação em Metrologia da PUC-Rio – o PósMQI (metrologia voltada para a qualidade e para a inovação), concebido para capacitar profissionais com sólidos conhecimentos em áreas da tecnologia industrial básica , direcionando o seu esforço de pesquisa básica e aplicada para o desenvolvimento de padrões e de novos métodos e técnicas de medição, sensores e instrumentação, gestão laboratorial, práticas de gestão, estudos de impacto econômico e social, dentre outras aplicações que requerem conhecimentos avançados em metrologia. Criado para atender demandas específicas do mercado de trabalho demandante de profissionais com uma formação diferenciada, o PósMQI identifica o seu público-alvo nos múltiplos agentes públicos e privados que integram o Sistema Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial (SINMETRO), dentre os quais destacam-se laboratórios e empresas, montadoras, centros de P&D, centros voltados à inovação e à formação de RH e agências reguladoras.
Dentre as modalidades disponíveis o PósMQI oferece: (i) o Mestrado (stricto sensu) em Metrologia; (ii) a Especialização em Metrologia; (iii) treinamentos e recapacitação de instrutores e professores de cursos superiores, cursos técnicos e de segundo grau e (iv) a oferta de cursos especializados para atender demandas específicas oriundas, notadamente, do setor produtivo.
O Programa propõe-se a formar profissionais de elevado nível técnico-científico, com competência para enfrentar os desafios que decorrem dos avanços e sofisticações da metrologia (hoje percebida como insumo para superação de barreiras técnicas) e da nova lógica imposta pelos movimentos pela qualidade e pela inovação e, ainda, pelo novo momento econômico que preconiza a livre concorrência e a inserção competitiva em mercados abertos. Adicionalmente à formação de mestres em metrologia para a qualidade industrial, cujo esforço de pesquisa orienta-se para as áreas clássicas da tecnologia industrial, o PósMQI vem fortalecendo a sua ação envolvendo-se com questões atuais da metrologia química, biometrologia, empreendedorismo, instrumentação e sensoriamento remoto, controle ambiental, processamento de imagens, atendendo demandas específicas resultantes de sofisticações induzidas pelo processo da inovação tecnológica que impõem novos desafios à ciência das medições.
Pela natureza essencialmente interdisciplinar da metrologia o PósMQI incorpora uma visão multidisciplinar e interdepartamental, beneficiando-se da robusta e coerente infra-estrutura laboratorial e de pesquisa disponível na universidade, fortalecendo-se da riqueza das parcerias, da flexibilidade e diversidade de visões, das coalizões no encaminhamento de soluções globais. A metodologia utilizada para a definição da evolução das disciplinas e de suas ementas passa por uma etapa de contínua consulta ao setor produtivo e outros órgãos demandantes de metrologia, processo extremamente facilitado pela excelente interação que a universidade mantém com o mundo externo. Em particular, o Programa de Pós-Graduação em Metrologia da PUC-Rio procura manter um vínculo permanente com outros programas de natureza acadêmica e profissional em metrologia e áreas correlatas, existentes no País e no exterior, além de estimular o intercâmbio com os institutos nacionais de metrologia de diversos países, a promoção de eventos nacionais e internacionais de metrologia, criando amplas oportunidades de interação.
1 Tecnologia Industrial Básica (TIB) foi a denominação criada na década de 70 pela Secretaria de Política Industrial (SPI) vinculada ao então Ministério da Indústria e Comércio (MIC) para caracterizar as funções da metrologia, normalização, certificação e credenciamento, avaliação da conformidade, gestão da qualidade, informação tecnológica, propriedade intelectual e outras áreas correlatas.
Gênesis do PósMQI
Resultado da articulação interministerial estabelecida pelos Ministérios da Educação; Ciência e Tecnologia e Desenvolvimento, Indústria e Comércio Exterior, e com o propósito de fortalecer o desenvolvimento de profissionais com sólidos conhecimentos nas áreas da tecnologia industrial básica, o governo brasileiro, por intermédio da CAPES/MEC, CNPq/MCT e INMETRO/MDICT criou o Programa RH-Metrologia.
Como uma de suas dez ações estruturantes, em 1995, o Programa RH-Metrologia, por força de Edital público (Edital RH-Metrologia 01/95 publicado pela CAPES), convocou as universidades brasileiras a submeterem propostas para viabilizar a criação de dois Programas de Pós-Graduação em Metrologia (mestrado) no País , oferecendo recursos financeiros e uma cota de bolsas de pós-graduação e de pesquisa. Em resposta à indução governamental, no contexto da qual concorreram propostas elaboradas por oito universidades brasileiras, algumas das quais formando coalizões com organizações internacionais de metrologia, nasceu o Programa de Pós-Graduação em Metrologia da PUC-Rio, com área de concentração em “metrologia para a qualidade industrial” representando, na realidade, a resposta da universidade ao apelo de um programa estruturante do governo federal.
Concebido na interface dos programas de pós-graduação em Engenharia, Física e Química do Centro Técnico Científico da universidade, o Programa de Pós-Graduação em Metrologia da PUC-Rio, com respaldo em decisão unânime do Conselho Departamental do Centro Técnico Científico da PUC-Rio foi aprovado pelo Conselho de Ensino e Pesquisa (CEP) da universidade, tendo sido homologado pelo então Ministro de Estado da Educação e do Desporto como “mestrado acadêmico, que formalmente atribui o reconhecimento oficial ao Programa ”. Na qualidade de programa emergencial, ao longo do biênio 1996-97 recebeu da CAPES o conceito “3” (numa escala de 0 a 5, que caracteriza a avaliação CAPES dos programas de Mestrado).
Como será descrito mais à frente no capítulo “evolução do programa”, o PósMQI não apenas especializou sua ação como evoluiu no conceito CAPES que reflete a avaliação da pós-graduação brasileira.
Áreas de concentração e Linhas de pesquisa
2 À época Ministério da Indústria, do Comércio e do Turismo (MICT).
3 Duas foram as propostas vencedoras: o PósMQI da PUC-Rio e o Programa de Metrologia Científica e Industrial (PósMCI) da Universidade Federal de Santa Catarina.
4 Plenária da 379ª Reunião do Conselho Departamental do CTC, realizada em 13 de novembro de 1995.
5 Conforme consta da Ata no. 294 de reunião do Conselho de Ensino e Pesquisa da PUC-Rio (de 6 de dezembro de 1995) foi criado o “Programa de Pós-Graduação em Metrologia para Qualidade Industrial (consta do Catálogo de Programas de Pós-Graduação a denominação “Programa de Pós-Graduação em Metrologia para Qualidade Industrial, com Título a ser conferido “Mestre em Metrologia”, Área de Concentração “Metrologia para Qualidade Industrial”). Já no contexto da CAPES, o Programa de Pós-Graduação em Metrologia foi assim caracterizado: Grande Área: Outras; Área: Engenharias III; Programa: Metrologia para Qualidade Industrial, Ref.: 31005012028P5; Nível: M; Curso: Metrologia para Qualidade Industrial; Área de Concentração: Metrologia. Com a presente proposta de replanejamento do Programa, pretende-se, também, harmonizar essas denominações (cabe destacar que a denominação da Área de Concentração que consta do Catálogo de Pós-Graduação da PUC (edição 2002/03), não corresponde exatamente à denominação atribuída pela CAPES quando da criação do Programa).
6 Nos termos do art. 2º da Lei nº 9.131, de 24 de novembro de 1995, o Ministro de Estado da Educação e do Desporto homologa o parecer nº 930/98 da Câmara de Educação Superior do Conselho Nacional de Educação, referente ao reconhecimento do curso de Pós-Graduação stricto sensu, correspondente ao biênio 1996/97, avaliado pela Fundação Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior/ CAPES, conforme consta do Processo nº 23001.000441/98-84
7 O enquadramento como mestrado acadêmico se deu em momento coincidente às discussões revitalizadas pela CAPES de criação de programas profissionalizantes em nível de pós-graduação.
Reconhecimento do curso
 Mestrado |
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Reconhecimento:
Homologado pelo CNE (Portaria MEC 524, DOU 30/04/2008 - Parecer CES/CNE 33/2008, de 20/02/2008). Tendo sido avaliado com conceito 4.
Título atribuído: Mestre em Metrologia |
Requisitos para obtenção dos títulos de Mestre e Doutor
| Mestrado |
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O aluno deve cursar 8 disciplinas (24 créditos) valendo crédito + 2 disciplinas de 0 crédito (0 créditos), somando um total de 10 disciplinas (24 créditos):
(i) 5 disciplinas obrigatórias (VALENDO CRÉDITO)
a) 3 pré-determinadas (9 créditos)
MQI 2001 - Fundamentos da Metrologia
MQI 2002 - Fundamentos da Tecnologia Industrial Básica
MQI 2003 - Estatística para Metrologia
b) 2 selecionadas dentre o elenco de disciplinas ELETIVAS do PósMQI, a critério do orientador (6 créditos).
(ii) 2 disciplinas que não valem crédito, mas são obrigatórias (0 crédito):
MQI 2000 - Seminário em Metrologia (cursar no 2º período)
MQI 3000 - Dissertação de Mestrado (cursar quando tiver completado 24 créditos ou no semestre em que for defender a dissertação)
(ii) 3 disciplinas eletivas (9 créditos)
Selecionadas dentre o elenco de disciplinas ELETIVAS do PósMQI
O objetivo da disciplina MQI 2000 – Seminário em Metrologia é permitir uma atualização permanente para acompanhar os avanços do setor. O aluno deverá se matricular nesta disciplina no 2º período e, ao final do semestre, deve apresentar uma proposta de dissertação. O tema da dissertação deverá contribuir para o aperfeiçoamento da Metrologia e suas aplicações na qualidade de produtos e serviços, competitividade e melhoria da qualidade de vida.
Em conformidade com o regulamento dos Programas de Pós-graduação Stricto Sensu da PUC-Rio, como requisito adicional, o Programa requer também: (i) o conhecimento de um segundo idioma e (ii) o desenvolvimento, defesa e aprovação de uma dissertação de Mestrado.
O prazo máximo previsto é de 24 (vinte e quatro) meses, podendo ser, excepcionalmente, prorrogado, conforme regulamentação da PUC-Rio.
PRÉ-REQUISITOS
O candidato ao Programa de Pós-Graduação em Metrologia da PUC-Rio deverá possuir Diploma de Graduação em Engenharia, Física, Matemática, Química ou áreas afins. O processo de seleção dos candidatos ocorre em duas fases subseqüentes:
(i) avaliação com base na documentação do candidato (histórico escolar, curriculum vitae, duas cartas de recomendação, proposta de plano de estudo) e;
(ii) entrevista mantida com os candidatos selecionados na fase anterior (percepção do comprometimento e motivação, vínculos e interesses institucionais, defesa do plano de trabalho).
Em função do número de candidatos, a coordenação reserva-se o direito de impor uma prova escrita (conteúdo, raciocínio e habilidades, conhecimento de segundo idioma) como parte do processo de seleção. O resultado do julgamento é formalizado a todos os candidatos inscritos por meio de carta da Coordenação do Programa. |
Admissão e Matrícula
Candidatos ao programa deverão possuir diploma de graduação em Engenharia (qualquer modalidade), Física, Matemática ou Química. A admissão ao programa ocorrerá em função de parecer do Coordenador, com base na avaliação do histórico escolar do candidato, curriculum vitae, cartas de recomendação, plano de estudo proposto e eventual entrevista.
Grade curricular
(clique no código da disciplina para visualizar a ementa e a bibliografia)
Disciplinas Obrigatórias |
Créditos |
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Seminário em Metrologia |
0
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Fundamentos da Metrologia |
3
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Fundamentos da Tecnologia Industrial Básica |
3
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Estatística para Metrologia |
3
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Dissertação de Mestrado |
0
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NOTA: Além das disciplinas acima relacionadas, o mestrando deverá cursar mais duas disciplinas selecionadas dentre o elenco do PósMQI, a critério do professor orientador.
Disciplinas Eletivas |
Créditos
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Incerteza de Medição |
3
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Tópicos Avançados em Incerteza de Medição |
3
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Sensores e Instrumentação |
3
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Processamento e Análise de Sinais Digitais |
3
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Metrologia da Fisiologia Humana |
3
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Metrologia para o setor da Saúde |
3
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Metrologia do Coração |
3
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Biomagnetismo |
3
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Fundamentos da Metrologia da Cor |
3
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Radiometria e Fotometria |
3
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Análise Espectral de Corantes e Pigmentos |
3
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|
Tópicos Avançados em Metrologia da Cor |
3
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Avaliação de Desempenho de Sistemas de Energia |
3
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Análise Experimental em Engenharia Automotiva |
3
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Controle de Sistemas Automotivos |
3
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Gestão da Tecnologia das Medições nas Organizações |
3
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Tópicos Especiais em Metrologia |
3
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Relacionam-se, abaixo, disciplinas oferecidas por outros departamentos de interesse à metrologia. A relação, entretanto, não constitui lista fechada. Em função do interesse e especificidade da pesquisa de mestrado, os professores orientadores poderão recomendar outras disciplinas oferecidas na universidade ou por outras entidades conveniadas.
Outras Disciplinas Eletivas Recomendadas |
Créditos
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Técnicas Avançadas de Controle de Qualidade |
3
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Gerência de Tecnologia I |
3
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Gerência de Tecnologia II |
3
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|
Medidas de Temperatura, Pressão e Vazão |
3
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Metrologia Dimensional |
3
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Acústica e Vibrações em Metrologia |
3
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Medidas de Poluentes |
3
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Medidas de Propriedades Termofísicas |
3 |
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Medidas de Força, Deformação e Deslocamento |
3
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Metrologia em Química |
3
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Corpo docente
Coordenador de pós-graduação: Prof. Maurício Nogueira Frota
| Docentes : Titulação e Linhas de pesquisa |
 Núcleo básico de professores do programa
Alcir de Faro Orlando
Doutor, Stanford University, EUA - 1974
Termociências, Motores de Combustão Interna e Metrologia básica
Página pessoal
CurrÃculo Lattes
Carlos Roberto Hall Barbosa
Doutor, PUC-Rio, Brasil, 1999
Processamento e análise de sinais, inteligência computacional aplicada
CurrÃculo Lattes
Cássia Ribeiro Ponciano
Doutora em QuÃmica, PUC-Rio, Brasil
Metrologia QuÃmica, Caracterização de Materiais, métodos e práticas laboratoriais
CurrÃculo Lattes
Elisabeth Costa Monteiro
Doutora, Instituto de BiofÃsica Carlos Chagas Filho, UFRJ, Brasil, 1992
FÃsica Médica, BiofÃsica de Processos e Sistemas, Biomagnetismo
CurrÃculo Lattes
FabrÃcio Casarejos Lopes Luiz
Doutor, PUC-Rio, Brasil
Técnicas de Medição em Fluorescência, Compatibilidade Acústica, Sustentabilidade e Gestão da Qualidade
CurrÃculo Lattes
Fátima Ventura Pereira-Meirelles
Doutora em BioquÃmica, UFRJ, Brasil
Biometrologia,
Biocorrosão, Metabolismo Microbiano, Biotecnologia de Enzimas, Produção e Purificação de Biomoléculas, Biotecnologia Ambiental, Processos BioquÃmicos
CurrÃculo Lattes
Isabel Cristina dos Santos Carvalho
Doutora, PUC-Rio, Brasil
Optoeletrônica
CurrÃculo Lattes |
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Maria Fátima Ludovico de Almeida
Doutora, PUC-Rio, Brasil
Normalização empresarial, sistemas de inovação, planejamento estratégico, e gestão da tecnologia, Responsabilidade Social e Sustentabilidade
CurrÃculo Lattes
MaurÃcio Nogueira Frota
Doutor, Stanford University, EUA, 1981
Termociências, Metrologia CientÃfica e Industrial, Gestão de C&T
CurrÃculo Lattes
Reinaldo Castro Souza
Doutor, University of Warwick, Inglaterra - 1979
Métodos EstatÃsticos de Previsão
CurrÃculo Lattes
Ricardo Queiroz Aucélio
Doutor, Florida University, EUA
Metrologia QuÃmica, Espectro AnalÃtica Ótica Atômica, Espectrometria de Massas, Desenvolvimento de Métodos AnalÃticos
CurrÃculo Lattes
Robert Hirschler
(SENAI/CETIQT) )
Doutor, Universidade Técnica de Budapeste, Hungria, 1981
Metrologia da Cor
CurrÃculo Lattes
Adicionalmente ao esforço de pesquisa e orientação dos professores do Quadro Permanente (NRD6) e Colaboradores (Professores da PUC vinculados aos diversos departamentos da Universidade), o Programa conta ainda com a colaboração esporádica de professores visitantes e profissionais conferencistas convidados de indústria e de outros centros atuantes em P&D. |
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